主要有一下几个路径：
1. 开发阶段的寿命预测，主要是通过通过器件的应力即失效率评估来获得电力电子设备的MTBF（mean time between failure）值
2. 通过寿命实验设计来获得需要的值
通常是通过加速老化测试（accelerate life test)：选用一定数量的样品，设定加严的条件（通常是通过升高一定的温度），通过一定长度的实验时间，观察样品的损坏个数等情况，从而得到MTBF值
3. 从产品在市场上的返修率倒推产品的寿命
即通过AFR（年返修率或失效率）推算产品的无故障失效时间（MTBF）
...
很多途径，就不全部列举了
温馨提示：
