BIST（Built-In Self-Test）和Scan是两种常用的测试技术。BIST通过在芯片内部集成测试电路，实现自动测试和故障检测，减少了外部测试设备的需求，提高了测试效率。然而，BIST需要占用芯片面积和功耗，并且设计和实现较为复杂。
Scan技术通过在设计阶段在芯片中插入扫描链，实现了逐个测试和故障定位。它具有较低的硬件开销和较高的测试覆盖率，能够有效检测到故障。但是，Scan测试需要较长的测试时间，并且对设计进行修改，增加了设计和验证的复杂性。
综上所述，BIST和Scan各有优缺点。BIST适用于大规模集成电路，能够提高测试效率，但需要占用芯片面积和功耗。Scan技术具有较低的硬件开销和较高的测试覆盖率，但需要较长的测试时间和设计修改。选择哪种技术应根据具体需求和资源限制进行权衡。
