可控硅（也称为晶闸管）是一种电子器件，用于控制电流的传导。
要测试可控硅的好坏，可以采取以下步骤：
1. 使用万用表进行测试：将万用表设置为二极管测试模式，将测试笔的红色电缆连接到可控硅的阳极（A端），将黑色电缆连接到可控硅的阴极（K端），然后测量电压。如果测试结果符合硅控整流器的规格要求，表示可控硅正常工作；如果测试结果为开路或短路，则表示可控硅损坏。
2. 使用触发电路进行测试：使用一个简单的触发电路（如RC触发电路）来触发可控硅，并将其连接到电源和负载上。通过触发可控硅，测量负载上的电流和电压。如果可控硅成功触发并控制了电流的传导，表示可控硅正常工作；如果负载上没有电流流过或者电流无法被控制，表示可控硅可能损坏。
3. 使用专业测试仪器进行测试：使用专业的可控硅测试仪器，如可控硅参数测试仪或可控硅特性分析仪，来测试可控硅的各项参数，如触发电流、保持电流、封锁电流等。这些测试仪器可以更全面地评估可控硅的性能和健康状况。
至于可控硅的坏处，主要包括以下几点：
1. 可控硅的开关速度较慢，无法实现高频开关。
2. 可控硅的电压降较高，会导致能量损耗。
3. 可控硅的触发电流较大，需要额外的触发电路来进行控制。
4. 可控硅的温度敏感性较高，温度过高会导致其失效或损坏。
5. 可控硅的封装较大，占用空间较多。
需要根据具体的应用场景和需求来评估可控硅的好坏和坏处，并选择合适的替代器件或解决方案。
