它们在原理、功能和应用方面有一些区别。具体区别如下:
1、STEM 是扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscope）的缩写，它使用电子束通过样品并测量透射电子的强度来形成图像。在STEM中，电子束的直径可以调整，可以通过样品进行扫描，从而获得高分辨率的透射电子显微镜图像。STEM对于观察材料的晶体结构、原子排列和化学成分等细节非常有用。
2、TEM 是透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope）的缩写，它也使用电子束通过样品，并在投影区域上收集和放大透射电子，最终形成图像。与STEM不同，TEM将整个样品视为一个透明的“透射”对象，而不是扫描样品。这使得TEM在观察样品的内部结构、晶格缺陷和纳米尺度物体等方面非常有用。
3、总的来说，STEM更适合于对样品进行高分辨率的表面和界面分析，而TEM更适合于观察样品的内部结构和纳米尺度的细节。两者都在材料科学、生物学、纳米技术等领域中发挥着重要作用。
