在光刻工艺中，系数K是用来描述焦深曲线（Focus Depth Curve）的形状和陡峭程度的一个重要参数，它与光刻工艺的分辨率和曝光能量等参数有关。如果K值较高，即曝光能量变化时焦深曲线的变化较为平缓时，则可以提高工艺的容错度和稳定性，使得曝光量对图形的影响较小，进而提高工艺的稳定性和重复性。下面列举几种提高光刻工艺系数K的方法：
增加曝光剂的浓度：增加曝光剂的浓度可以提高K值，这是因为曝光剂浓度的增加可以增加光聚焦的折射率差，进而增加焦深曲线的陡峭程度。
2.增加PAG与电子受体的比例：通过增加PAG与电子受体的比例，可以改善焦深曲线的形状，从而提高K值。
选择更高分子量的光敏剂：更高分子量的光敏剂片段可以提高聚合度，从而增加附着力并且减少热扰动，进而提高K值。
改变曝光能量的分布方式：改变曝光能量的分布方式，例如采用梯度曝光（Gradient Exposure）等方式，可以改善焦深曲线的形状，提高K值。
优化光栅设计：通过优化光栅的设计，例如增加曝光缓冲区域，可以改善焦深曲线的形状，提高K值。
需要注意的是，在进行光刻工艺的优化时，需要根据实际情况选择最合适的方法，并遵循正确的操作流程和安全规程。
