采用显微镜的焦平面成像原理,提出磨粒三维表面的测量方法;通
过不同的差分算子及小波图像处理,划分焦平面范围,提出采用形态学
方法测量磨粒三维表面;并通过布尔代数运算,将不同的显微镜焦平面
图像重构成一幅新的磨粒图像。表面形貌是接触表面摩擦、磨损和润滑
的结果,并直接影响接触表面的摩擦、磨损和润滑,是磨损状态评估和
磨损趋势预测的重要依据。
焦平面上物体如何成像
采用显微镜的焦平面成像原理,提出磨粒三维表面的测量方法;通
过不同的差分算子及小波图像处理,划分焦平面范围,提出采用形态学
方法测量磨粒三维表面;并通过布尔代数运算,将不同的显微镜焦平面
图像重构成一幅新的磨粒图像。表面形貌是接触表面摩擦、磨损和润滑
的结果,并直接影响接触表面的摩擦、磨损和润滑,是磨损状态评估和
磨损趋势预测的重要依据。
焦平面探测器的焦平面上排列着感光元件阵列,从无限远处发射的红外线经过光学系统成像在系统焦平面的这些感光元件上,探测器将接受到光信号转换为电信号并进行积分放大、采样保持,通过输出缓冲和多路传输系统,最终送达监视系统形成图像。