微分干涉是一种利用光的干涉现象进行精密测量的原理。它基于光的干涉现象，通过分析干涉条纹的形态和变化来推断被测对象的光学参数或形状信息。
微分干涉原理的核心是将一束光分为两束相干光，然后使它们经过不同的光路并重新合成，形成干涉。其中一束光经过一个待测对象，而另一束光则不经过或经过一个已知的参考对象。两束光再次合成时，产生的干涉现象可以反映被测对象对光的干涉影响，从而得到被测对象的信息。
具体来说，微分干涉通常使用干涉仪，例如米氏干涉仪或马赫-曾德尔干涉仪。通过在干涉路径中引入一个微小的光程差（即光程增量），可以使得两束光之间形成干涉条纹。通过观察这些干涉条纹的变化，可以推断出被测对象的光学参数或形状信息。
微分干涉在光学测量领域具有广泛的应用。例如，它可以用于精密表面形貌测量、光学薄膜厚度测量、生物细胞形态观察等领域。由于微分干涉技术对光程变化的高灵敏度，它能够提供非常精确的测量结果，具有很高的分辨率和精度。
