拉偏测试（high-low bias test）是2018年公布的计算机科学技术名词。测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化，以检测设备存在的潜在缺陷。
测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化，以检测设备存在的潜在缺陷。
《计算机科学技术名词 》第三版。
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