解析纠正,是指据像片断面数据或数字高程模型,用解析方法在正射投影仪上实现的微分纠正。
将像片的中心投影变换为成图比例尺的正射投影,实现这一变换的关键是建立或确定像点与相应图点的对应关系,这种关系可按投影变换用中心投影方法建立,也可以用数学解析方法用函数式确定。
竖直摄影的航摄像片是地面的中心投影。要用航摄像片的影像来确定地物的平面位置,需要将像片由中心投影转换为地面按一定比例尺的正射投影,并用正射影像的像片拼接镶嵌成像片平面图。
为了消除像片与像平面图的差异,需要将竖直摄影的像片消除像片倾斜引起的像点位移和限制或消除地形起伏引起的投影差,并将影像归化为成图比例尺。
按照数学解析纠正原理进行微分纠正时,是在模拟或解析测图仪建立的立体模型上,或现有的地图上,或从存贮于数据库的数字高程模型中,采集地面高程坐标和获取像片内外方位元素,建立像点与图点之间的中心投影与正射投影的坐标的对应关系。或直接在立体模型上断面扫描,将图点对应的像点坐标顺序记录在磁带上。依据以上方式建立的像点与图点的坐标对应,在像片上按一定位置、方向、大小截取像元素(即图底缝隙内各图点在像片的对应构像)晒印到图底相应的缝隙中。
在全数字化摄影测量中,经过影像数字化能获得每个像素,像素面积可小到25m×25m的灰度值。解析纠正是按共线方程用计算机求出像片每个像素对应的图底坐标,或图底正射投影点相对应的像点坐标,再经过灰度值的摄影测量内插(即灰度的重采样)求得图底各点的灰度值,晒印出来就是正射像片。原则上能实现像片的逐点纠正。
微分纠正又称正射投影技术,它是以图底的缝隙即线元素(或棉元素)为纠正单元,适用于起伏地区与山地制作正射影像图。由于以缝隙为纠正单元,故又称缝隙纠正。微分纠正可分为直接式(中心投影式)微分纠正与间接式(函数式)微分纠正。使用的仪器为正射投影仪。
直接式微分纠正是按投影变换原理以缝隙为纠正单元的像片纠正方法。