内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。
内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。
扫描链（英语：Scan chain）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。
扫描链
温馨提示：
